《集成电路封装测试厂设计规范》（GB51122-2015）【全文附高清无水印PDF+DOC/Word版下载】

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标准编号：GB51122-2015

标准名称：集成电路封装测试厂设计规范

英文名称：Code for design of integrated circuit assembly and test factory

发布日期：2015-08-27

实施日期：2016-05-01

发布单位：国家市场监督管理总局

中国标准分类：L55(微电路综合)

国际标准分类：31.200(集成电路、微电子学)

简介：为规范集成电路封装测试厂的工程设计，做到安全适用、技术先进、经济合理、节能环保，制定本规范。本规范适用于新建、改建和扩建的集成电路封装测试厂设计。集成电路封装测试厂设计除应符合本规范外，尚应符合国家现行有关标准的规定。




 

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