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《扫描电子显微镜校准规范》（JJF1916-2021）【全文附高清无水印PDF版下载】
规范编号：JJF1916-2021
中文名称：扫描电子显微镜校准规范
英文名称：Calibration Specification for Scanning Electronic Microscopes (SEM)
发布时间：2021-07-28
实施时间：2022-01-28
代替文件：JJG 550-1988
引用文件：JJF 1071-2010 GB/T 20307-2006
PDF质量：高清晰无水印PDF版（官方正式版、完整版、原版扫描，共计：13P（页），PDF文档大小：296KB）
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